שיטה ומערכת לבדיקה אופטו-אלקטרונית של דגם דו-ממדי על גבי חפץ - פטנט 73947 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 73947
שם האמצאה:: שיטה ומערכת לבדיקה אופטו-אלקטרונית של דגם דו-ממדי על גבי חפץ
שם באנגלית:: METHOD OF AND SYSTEM FOR OPTO- ELECTRONIC INSPECTION OF A TWO-DIMENSIONAL PATTERN ON AN OBJECT

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
27/12/1984	בקשה לאומית	73947	ישראל (IL)
27/12/1984	פרסום לאומי	73947	ישראל (IL)

מגיש

שם:: DR. ING. LUDWIG PIETZSCH GMBH & Co.
כתובת:: ETTLINGEN , DE
מדינה:: גרמניה

מסירת הודעות

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266

סוכן

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266

מסמכים

פטנטים דומים