קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מתקן לשימוש בבדיקת אל-הרס של חשיפת איבוך כפולה
פטנט 70586
כללי
מספר פטנט:
70586
שם האמצאה:
מתקן לשימוש בבדיקת אל-הרס של חשיפת איבוך כפולה
שם באנגלית:
APPARATUS FOR THE PRACTICE OF DOUBLE EXPOSURE INTERFEROMETRIC NON-DESTRUCTIVE TESTING
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
30/12/1983
בקשה לאומית
70586
ישראל (IL)
30/06/1988
פרסום לאומי
70586
ישראל (IL)
מגיש
שם:
INDUSTRIAL HOLOGRAPHICS INC.
כתובת:
MICH., , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
ג'י.אי.ארליך (1995) בע" מ
כתובת:
מגדל איילון, קומה 15 ,רחוב מנחם בגין 11, רמת גן 52521
מדינה:
ישראל
טלפון:
09-9570590
פקס:
09-9570595
דוא"ל:
israel@ipatent.co.il
סוכן
שם:
ג'י.אי.ארליך (1995) בע" מ
כתובת:
מגדל איילון, קומה 15 ,רחוב מנחם בגין 11, רמת גן 52521
מדינה:
ישראל
טלפון:
09-9570590
פקס:
09-9570595
דוא"ל:
israel@ipatent.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
טומוגרפיה ממוחשבת לבדיקות לא ה הרסניות
התקן לבדיקה לא-הרסנית של חומרים דיאלקטריים/מגנטיים
שיטה והתקן לגילוי אל–הרס של פגמים חבויים
תהליך לא הרסני לאפיון מצב השטח של חלק
שיטה לא-הרסנית לשיערוך לוחות תיוט מודפסים