מתן לבדיקת מעגל מדפים של מדפס אלקטרו-טרמי - פטנט 66528 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 66528
שם האמצאה:: מתן לבדיקת מעגל מדפים של מדפס אלקטרו-טרמי
שם באנגלית:: DEVICE FOR CHECKING THE PRINTING CIRCUIT OF AN ELECTRO-THERMAL PRINTER

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
12/08/1982	בקשה לאומית	66528	ישראל (IL)
15/12/1989	פרסום לאומי	66528	ישראל (IL)

מגיש

שם:: KABUSHIKI KAISHA ISHIDA KOKI SEISAKUSHO
כתובת:: KYOTO , JP
מדינה:: יפן

מסמכים

פטנטים דומים