התקן לבדיקת זיהומים על פני השטח של גלאים אופטיים - פטנט 65575 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 65575
שם האמצאה:: התקן לבדיקת זיהומים על פני השטח של גלאים אופטיים
שם באנגלית:: APPARATUS FOR TESTING THE SURFACES OF OPTICAL DETECTORS FOR CONTAMINATION

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
02/06/1981	דין קדימה	269210	ארה"ב (US)
22/04/1982	בקשה לאומית	65575	ישראל (IL)
31/12/1987	פרסום לאומי	65575	ישראל (IL)

מגיש

שם:: SANTA BARBARA RESEARCH CENTER
כתובת:: 75 COROMAR DRIVE GOLETA, CALIFORNIA , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים