קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטות והתקנים למדידה זויתית במערכותמכ" ם לעקוב מטרה
פטנט 55961
כללי
מספר פטנט:
55961
שם האמצאה:
שיטות והתקנים למדידה זויתית במערכותמכ" ם לעקוב מטרה
שם באנגלית:
METHODS AND APPARATUS FOR ANGULAR MEASUREMENT IN TARGET TRACKING RADAR SYSTEMS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
09/02/1978
דין קדימה
1445/78
שוויץ (CH)
16/11/1978
בקשה לאומית
55961
ישראל (IL)
31/01/1982
פרסום לאומי
55961
ישראל (IL)
מגיש
שם:
SIEMENS-ALBIS AKTIENGESELLSCHAFT
כתובת:
ZURICH, , CH
מדינה:
שוויץ
מסירת הודעות
שם:
איתן, פרל, לצר וכהן צדק
כתובת:
רחוב שנקר 7, הרצליה 46733
מדינה:
ישראל
טלפון:
09-9726000
פקס:
03-9709001
דוא"ל:
ilpto@pczlaw.com
סוכן
שם:
איתן, פרל, לצר וכהן צדק
כתובת:
רחוב שנקר 7, הרצליה 46733
מדינה:
ישראל
טלפון:
09-9726000
פקס:
03-9709001
דוא"ל:
ilpto@pczlaw.com
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
מתקן מדידת זוויות
מתקן למדידת מיקום זוויתי
סידור למדידת תנועה סיבובית
מערכת ושיטה למדידת אוריינטציה זוויתית של פלטפורמה תעופתית
מערכת רדאר ושיטה עבור גילוי מטרות בערבוביה על ידי שימוש בעוצמת מטרה ומיקום זוויתי