קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה וסידור לאנליזה רנטגנוספקטרילית
פטנט 53310
כללי
מספר פטנט:
53310
שם האמצאה:
שיטה וסידור לאנליזה רנטגנוספקטרילית
שם באנגלית:
MODE AND ARRANGEMENT FOR X - RAY SPECTRAL ANALYSIS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
06/11/1977
בקשה לאומית
53310
ישראל (IL)
31/12/1982
פרסום לאומי
53310
ישראל (IL)
מגיש
שם:
EMIL AB
כתובת:
RAMOT 16/3 JERUSALEM , IL
מדינה:
ישראל
מגיש
שם:
SERGEI AB
כתובת:
JERUSALEM , IL
מדינה:
ישראל
מסירת הודעות
שם:
סרגיי אב
כתובת:
רמות 42/31, ירושלים
מדינה:
ישראל
סוכן
שם:
סרגיי אב
כתובת:
רמות 42/31, ירושלים
מדינה:
ישראל
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה ומכשיר לאנליסה ספקטרית של דמויות
שיטה ומכשיר לניתוח ספקטראלי של דמויות
מערכת הארה מכשיר לאנליזיה ספקטרלית ושיטה לאנליזה ספקטרלית
מכשיר ושיטה להדמיה ספקטרלית
תא אופטי למדידות ספקטרוסקופיה