מכשיר לבדיקת מוליכים למחצה - פטנט 51637 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 51637
שם האמצאה:: מכשיר לבדיקת מוליכים למחצה
שם באנגלית:: SEMICONDUCTOR TESTER

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
16/02/1977	דין קדימה	769110	ארה"ב (US)
09/03/1977	בקשה לאומית	51637	ישראל (IL)
30/09/1979	פרסום לאומי	51637	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HUNTRON INSTRUMENTS INC.
כתובת:: LYNNWOOD,WASH., , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים