תהליך והתקן לאנליזה אלמנטרית וכימיתשל דגימה ע" י אנליזה הספקטרום של אנרגיית האלקטרונים המשניים - פטנט 48721 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 48721
שם האמצאה:: תהליך והתקן לאנליזה אלמנטרית וכימיתשל דגימה ע" י אנליזה הספקטרום של אנרגיית האלקטרונים המשניים
שם באנגלית:: PROCESS AND APPARATUS FOR THE ELEMENTARY AND CHEMICAL ANALYSIS OF A SAMPLE BY SPECTRUM ANALYSIS OFTHE ENERGY OF THE SECONDARY ELECTRONS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
24/12/1975	בקשה לאומית	48721	ישראל (IL)
31/05/1979	פרסום לאומי	48721	ישראל (IL)

מגיש

שם:: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE
כתובת:: 31/33 RUE DE LA FEDERATION PARIS 75015 , FR
מדינה:: צרפת

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים