כללי
מספר פטנט:
245697
שם האמצאה:
שיטה לגילוי ואנליזה של עצמים ממרחק
שם באנגלית:
METHOD OF STANDOFF DETECTION AND ANALYSIS OF OBJECTS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2015/077169 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/905940 ארה"ב (US)
דין קדימה 14/160895 ארה"ב (US)
דין קדימה 61/945921 ארה"ב (US)
דין קדימה 14/259603 ארה"ב (US)
דין קדימה 14/319222 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2014/065883 ארה"ב (US)
בקשת PCT 245697 ישראל (IL)
פרסום לאומי 245697 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
APSTEC SYSTEMS USA LLC
כתובת:
4 Park Center Court, Ste 200A Owings Mills, MD 21117 , US
מדינה:
ארה"ב
  מגיש/ממציא
שם:
ANDREY KUZNETSOV
  מגיש/ממציא
שם:
IGOR GORSHKOV
  מגיש/ממציא
שם:
VALERY AVERYANOV
  מגיש/ממציא
שם:
STANISLAV VOROBYEV
  מסירת הודעות
שם:
ס. וינוגרדוב עו" פ
כתובת:
פתח - תקוה 49191
מדינה:
ישראל
דוא"ל:
slav307@yahoo.com
  סוכן
שם:
ס. וינוגרדוב עו" פ
כתובת:
פתח - תקוה 49191
מדינה:
ישראל
דוא"ל:
slav307@yahoo.com