כללי
מספר פטנט:
241803
שם האמצאה:
שיטות, מכשירים ומערכות לאנליזה של דגימה
שם באנגלית:
METHODS, DEVICES, AND SYSTEMS FOR SAMPLE ANALYSIS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2014/160891 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/805900 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2014/032071 ארה"ב (US)
בקשת PCT 241803 ישראל (IL)
פרסום לאומי 241803 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה