שיטה אופטית ומערכת לגילוי פגמים במבנים תלת–מימדיים - פטנט 236550 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 236550
שם האמצאה:: שיטה אופטית ומערכת לגילוי פגמים במבנים תלת–מימדיים
שם באנגלית:: OPTICAL METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECTS IN THREE- DIMENSIONAL STRUCTURES

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2014/006614	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
02/07/2012	דין קדימה	61/666935	ארה"ב (US)
02/07/2013	בקשה בינלאומית	PCT/IL/2013/050560	ישראל (IL)
01/01/2015	בקשת PCT	236550	ישראל (IL)
26/02/2015	פרסום לאומי	236550	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.

פטנטים דומים