גילוי פגמים נעוצים ברעש לבדיקה בייצור מוליכים למחצה - פטנט 236402 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 236402
שם האמצאה:: גילוי פגמים נעוצים ברעש לבדיקה בייצור מוליכים למחצה
שם באנגלית:: DETECTION OF DEFECTS EMBEDDED IN NOISE FOR INSPECTION IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2014/004682	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
27/06/2012	דין קדימה	13/534899	ארה"ב (US)
26/06/2013	בקשה בינלאומית	PCT/US/2013/047909	ארה"ב (US)
23/12/2014	בקשת PCT	236402	ישראל (IL)
26/02/2015	פרסום לאומי	236402	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

H01L: חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים

מגיש

שם:: KLA-TENCOR CORPORATION

פטנטים דומים