התקנים ושיטות להדמיית אלומת אלקטרונים ברזולוציה גבוהה - פטנט 234977 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 234977
שם האמצאה:: התקנים ושיטות להדמיית אלומת אלקטרונים ברזולוציה גבוהה
שם באנגלית:: APPARATUS AND METHODS FOR HIGH-RESOLUTION ELECTRON BEAM IMAGING

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2013/152028	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
03/04/2012	דין קדימה	13/438543	ארה"ב (US)
02/04/2013	בקשה בינלאומית	PCT/US/2013/034999	ארה"ב (US)
02/10/2014	בקשת PCT	234977	ישראל (IL)
31/12/2014	פרסום לאומי	234977	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

H01J: חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים

מגיש

שם:: KLA-TENCOR CORPORATION

פטנטים דומים