מדידה של אותות חשמליים באמצעות חיישן פלזמה הנוצר ע" י עירור של קרן אלקטרונים - פטנט 230462 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 230462
שם האמצאה:: מדידה של אותות חשמליים באמצעות חיישן פלזמה הנוצר ע" י עירור של קרן אלקטרונים
שם באנגלית:: ELECTRICAL INSPECTION OF ELECTRONIC DEVICES USING ELECTRON-BEAM INDUCED PLASMA PROBES

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2013/012616	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
15/07/2011	דין קדימה	61/508578	ארה"ב (US)
10/07/2012	בקשה בינלאומית	PCT/US/2012/046100	ארה"ב (US)
14/01/2014	בקשת PCT	230462	ישראל (IL)
31/03/2014	פרסום לאומי	230462	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01R: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: ORBOTECH LTD.

מגיש

שם:: PHOTON DYNAMICS, INC

פטנטים דומים