כללי
מספר פטנט:
229213
שם האמצאה:
מערכת זעיר אלקטרו מכנית (MEMS) ו– (MEM) אינטרפורומטר אופטי למיפוי ואנאליזה היפר–ספקטרליים
שם באנגלית:
MICROELECTROMECHANICAL SYSTEM (MEMS) AND (MEM) OPTICAL INTERFEROMETER FOR HYPER-SPECTRAL IMAGING AND ANALYSIS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2012/150557 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/481269 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/IB/2012/052195 הלשכה הבינלאומית (IB)
בקשת PCT 229213 ישראל (IL)
פרסום לאומי 229213 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01J: פיזיקה > מדידה; בדיקה