כללי
מספר פטנט:
227492
שם האמצאה:
התקן לבדיקת חיישנים ואיטה לבדיקת חיישנים
שם באנגלית:
SENSOR TESTING DEVICE AND SENSOR TESTING METHOD
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2012/099049 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/434993 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/JP/2012/050701 יפן (JP)
בקשת PCT 227492 ישראל (IL)
פרסום לאומי 227492 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01B: פיזיקה > מדידה; בדיקה
  מגיש
שם:
NALUX CO, LTD
  מגיש/ממציא
שם:
DAISUKE SATO
  מגיש/ממציא
שם:
TAKAHIRO FUJIOKA