ניתוח אוטומטי של אותות אלקטרוגרם מורכבות מפוצלות - פטנט 224744 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 224744
שם האמצאה:: ניתוח אוטומטי של אותות אלקטרוגרם מורכבות מפוצלות
שם באנגלית:: AUTOMATED ANALYSIS OF COMPLEX FRACTIONATED ELECTROGRAMS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
21/03/2012	דין קדימה	13/425512	ארה"ב (US)
14/02/2013	בקשה לאומית	224744	ישראל (IL)
27/06/2013	פרסום לאומי	224744	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G06K: פיזיקה > מחשוב; חישוב; ספירה

מגיש

שם:: BIOSENSE WEBSTER (ISRAEL) LTD.

מגיש/ממציא

שם:: Gal Hayam

מגיש/ממציא

שם:: LIMOR ELRAN

מגיש/ממציא

שם:: AHARON TURGEMAN

מגיש/ממציא

שם:: YAARIV KHAYKIN

פטנטים דומים