כללי
מספר פטנט:
220462
שם האמצאה:
שיטה לכיול מכשיר מדידה של מערכת אופטרונית
שם באנגלית:
METHOD FOR CALIBRATING A MEASUREMENT INSTRUMENT OF AN OPTRONIC SYSTEM
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2011/073144 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 0906173 צרפת (FR)
בקשה בינלאומית PCT/EP/2010/069533 משרד הפטנטים האירופי (EP)
בקשת PCT 220462 ישראל (IL)
פרסום לאומי 220462 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01S: פיזיקה > מדידה; בדיקה