כללי
מספר פטנט:
214344
שם האמצאה:
גלאי מצב מוצק לקרינה בעל רגישות משופרת
שם באנגלית:
SOLID-STATE RADIATION DETECTOR WITH IMPROVED SENSITIVITY
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2010/088066 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 12/364042 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2010/021142 ארה"ב (US)
בקשת PCT 214344 ישראל (IL)
פרסום לאומי 214344 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • H01L: חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים
  מגיש
שם:
REDLEN TECHNOLOGIES INC.
  מגיש/ממציא
שם:
CHEN, HENRY
  מגיש/ממציא
שם:
SALAH AWADALLA