מכשיר ושיטה לבדיקה אופטית, זיהוי ואנאליזה של MACRO פגמים בשני הצדדים וקצה הפרוסה - פטנט 213025 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 213025
שם האמצאה:: מכשיר ושיטה לבדיקה אופטית, זיהוי ואנאליזה של MACRO פגמים בשני הצדדים וקצה הפרוסה
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR OPTICAL INSPECTION, DETECTION AND ANALYSIS OF DOUBLE SIDED AND WAFER EDGE MACRO DEFECTS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
19/05/2011	בקשה לאומית	213025	ישראל (IL)
31/07/2011	פרסום לאומי	213025	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: MAY HIGH-TECH SOLUTIONS LTD.

פטנטים דומים