גישוש רב–נקודתי לבדיקת תכונות חשמליות ושיטה לייצור גישוש רב–נקודתי - פטנט 210154 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 210154
שם האמצאה:: גישוש רב–נקודתי לבדיקת תכונות חשמליות ושיטה לייצור גישוש רב–נקודתי
שם באנגלית:: A MULTI-POINT PROBE FOR TESTING ELECTRICAL PROPERTIES AND A METHOD OF PRODUCING A MULTI-POINT PROBE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2010/000265	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
30/06/2008	דין קדימה	083888023.7	משרד הפטנטים האירופי (EP)
30/06/2009	בקשה בינלאומית	PCT/DK/2009/000161	דנמרק (DK)
21/12/2010	בקשת PCT	210154	ישראל (IL)
31/03/2011	פרסום לאומי	210154	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01R: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: CAPRES A/S

פטנטים דומים