מערכות ושיטות להקטנת השפעת סטיות במערכת דימות - פטנט 208545 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 208545
שם האמצאה:: מערכות ושיטות להקטנת השפעת סטיות במערכת דימות
שם באנגלית:: SYSTEMS AND METHODS FOR MINIMIZING ABERRATING EFFECTS IN IMAGING SYSTEMS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2004/090581	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
31/03/2003	דין קדימה	60/459417	ארה"ב (US)
31/03/2004	בקשה בינלאומית	PCT/US/2004/009743	ארה"ב (US)
07/10/2010	בקשת PCT	208545	ישראל (IL)
30/12/2010	פרסום לאומי	208545	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G02B: פיזיקה > אופטיקה

מגיש

שם:: OMNIVISION TECHNOLOGIES, INC.

מגיש

שם:: OMNIVISION CDM OPTICS, INC.

פטנטים דומים