שיטה והתקן למידול של תכונות פיזור אלקטרומגנטי של מבנים מיקרוסקופיים ושיטה והתקן לבניה מחדש של מבנים מיקרוסקופיים פטנט 208105
כללי
מספר פטנט:
208105
שם האמצאה:
שיטה והתקן למידול של תכונות פיזור אלקטרומגנטי של מבנים מיקרוסקופיים ושיטה והתקן לבניה מחדש של מבנים מיקרוסקופיים
שם באנגלית:
METHODS AND APPARATUS FOR MODELING ELECTROMAGNETIC SCATTERING PROPERTIES OF MICROSCOPIC STRUCTURES AND METHODS AND APPARATUS FOR RECONSTRUCTION OF MICROSCOPIC STRUCTURES