התקן למדידת הפגמים במכשיר הדמייה באמצעות שימוש בשני גלאים אופטו–אלקטרוניים - פטנט 205714 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 205714
שם האמצאה:: התקן למדידת הפגמים במכשיר הדמייה באמצעות שימוש בשני גלאים אופטו–אלקטרוניים
שם באנגלית:: DEVICE FOR MEASURING THE DEFECTS OF AN IMAGING INSTRUMENT WITH TWO OPTO-ELECTRONIC SENSORS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2009/062890	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
13/11/2007	דין קדימה	0707967	צרפת (FR)
07/11/2008	בקשה בינלאומית	PCT/EP/2008/065133	משרד הפטנטים האירופי (EP)
12/05/2010	בקשת PCT	205714	ישראל (IL)
31/12/2014	פרסום לאומי	205714	ישראל (IL)

מגיש

שם:: THALES
כתובת:: 45 RUE DE VILLIERS, F-92200 NEUILLY SUR SEINE , FR
מדינה:: צרפת

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים