התקן לאפיון הביצוע האלקטרו – אופטי של רכיב מוליך למחצה - פטנט 204688 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 204688
שם האמצאה:: התקן לאפיון הביצוע האלקטרו – אופטי של רכיב מוליך למחצה
שם באנגלית:: DEVICE FOR CHARACTERIZING THE ELECTRO-OPTICAL PERFORMANCE OF A SEMICONDUCTOR COMPONENT

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
08/04/2009	דין קדימה	0952278	צרפת (FR)
23/03/2010	בקשה לאומית	204688	ישראל (IL)
30/04/2014	פרסום לאומי	204688	ישראל (IL)

מגיש

שם:: SOCIETE FRANCAISE DE DETECTEURS INFRAROUGES-SOFRADIR
כתובת:: 43/47 RUE CAMILLE PELLETAN F-92290 CHATENAY MALABRY , FR
מדינה:: צרפת

מסירת הודעות

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266
דוא"ל:: mail@wbgpat.co.il

סוכן

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266
דוא"ל:: mail@wbgpat.co.il

מסמכים

פטנטים דומים