שיטות לחילוץ, חילול, דמיון ופיקוח על תכונת התקן מוליך למחצה - פטנט 203250 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 203250
שם האמצאה:: שיטות לחילוץ, חילול, דמיון ופיקוח על תכונת התקן מוליך למחצה
שם באנגלית:: SEMICONDUCTOR DEVICE PROPERTY EXTRACTION, GENERATION, VISUALIZATION AND MONITORING METHODS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2009/018337	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
30/07/2007	דין קדימה	11/830485	ארה"ב (US)
30/07/2008	בקשה בינלאומית	PCT/US/2008/071587	ארה"ב (US)
11/01/2010	בקשת PCT	203250	ישראל (IL)
31/03/2015	פרסום לאומי	203250	ישראל (IL)

מגיש

שם:: KLA-TENCOR CORPORATION
כתובת:: 160 RIO ROBLES SAN JOSE CALIFORNIA 95134 , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

מסמכים

פטנטים דומים