שיטה לניטור סורפקטנט באמצעות ספיגה בתהליך מיקרואלקטרוני - פטנט 201339 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 201339
שם האמצאה:: שיטה לניטור סורפקטנט באמצעות ספיגה בתהליך מיקרואלקטרוני
שם באנגלית:: A METHOD OF MONITORING A SURFACTANT IN A MICROELECTRONIC PROCESS BY ABSORBANCE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2009/126148	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
05/04/2007	דין קדימה	11/696797	ארה"ב (US)
08/04/2008	בקשה בינלאומית	PCT/US/2008/059644	ארה"ב (US)
01/10/2009	בקשת PCT	201339	ישראל (IL)
31/05/2010	פרסום לאומי	201339	ישראל (IL)

מגיש

שם:: NALCO COMPANY

פטנטים דומים