כללי
מספר פטנט:
198530
שם האמצאה:
שיטה והתקן לגילוי תקלות תוך שימוש בתאורת אור בהיר ואור כהה חודרנית
שם באנגלית:
METHOD AND SYSTEM FOR DEFECT DETECTION USING TRANSMISSIVE BRIGHT FIELD ILLUMINATION AND TRANSMISSIVE DARK FIELD ILLUMINATION
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2008/053490 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/864004 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/IL/2007/001337 ישראל (IL)
בקשת PCT 198530 ישראל (IL)
פרסום לאומי 198530 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה