כללי
מספר פטנט:
194915
שם האמצאה:
אליפסומטרים ספקטרוסקופים
שם באנגלית:
SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETERS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2007/127760 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/793926 ארה"ב (US)
דין קדימה 11/735979 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2007/067345 ארה"ב (US)
דין קדימה 11/739679 ארה"ב (US)
בקשת PCT 194915 ישראל (IL)
פרסום לאומי 194915 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01J: פיזיקה > מדידה; בדיקה
  מגיש
שם:
RAINTREE SCIENTIFIC INSTRUMENTS (SHANGHAI) CORPORATION
כתובת:
1250 OAKMEAD PARKWAY SUITE 210, SUNNYVALE CALIFORNIA, 94087 , US
מדינה:
ארה"ב
  מגיש/ממציא
שם:
TONGXIN LU
  מגיש/ממציא
שם:
XIAOHAN WANG
  מסירת הודעות
שם:
ד" ר מרק פרידמן בע" מ
כתובת:
מגדל משה אביב, ק.54 , רחוב ז'בוטינסקי, רמת- גן 52520
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-6114100
דוא"ל:
patents@friedpat.com
  סוכן
שם:
ד" ר מרק פרידמן בע" מ
כתובת:
מגדל משה אביב, ק.54 , רחוב ז'בוטינסקי, רמת- גן 52520
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-6114100
דוא"ל:
patents@friedpat.com