מערכת מדידה מדוייקת - פטנט 193445 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 193445
שם האמצאה:: מערכת מדידה מדוייקת
שם באנגלית:: ACCURATE METERING SYSTEM

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2007/094833	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
14/02/2006	דין קדימה	60/773272	ארה"ב (US)
16/11/2006	בקשה בינלאומית	PCT/US/2006/044497	ארה"ב (US)
14/08/2008	בקשת PCT	193445	ישראל (IL)
04/05/2009	פרסום לאומי	193445	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01F: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE

פטנטים דומים