שיטה והתקן " מבחן פתוח" להכנסת דוגמה לאנליזת מס ספקטרומטריה - פטנט 193003 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 193003
שם האמצאה:: שיטה והתקן " מבחן פתוח" להכנסת דוגמה לאנליזת מס ספקטרומטריה
שם באנגלית:: OPEN PROBE METHOD AND DEVICE FOR SAMPLE INTRODUCTION FOR MASS SPECTROMETRY ANALYSIS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
23/07/2008	בקשה לאומית	193003	ישראל (IL)
29/12/2011	פרסום לאומי	193003	ישראל (IL)

מגיש

שם:: AVIV AMIRAV
כתובת:: 5 HAYAAR ALLEY HOD HASHARON 45269 , IL
מדינה:: ישראל

מגיש/ממציא

שם:: AVIV AMIRAV
כתובת:: 5 HAYAAR ALLEY HOD HASHARON 45269 , IL
מדינה:: ישראל

מגיש/ממציא

שם:: ALEXANDER GORDIN
כתובת:: IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: דר' אייל ברסלר עו" פ
כתובת:: תובל 11, רמת - גן 52522
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-5765555
פקס:: 03-5765566

סוכן

שם:: דר' אייל ברסלר עו" פ
כתובת:: תובל 11, רמת - גן 52522
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-5765555
פקס:: 03-5765566

מסמכים

פטנטים דומים