כללי
מספר פטנט:
182689
שם האמצאה:
טכנולוגיית פלטפורמה לפרופיל ביטוי
שם באנגלית:
EXPRESSION PROFILING PLATFORM TECHNOLOGY
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2006/043179 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/621423 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/IB/2005/003397 הלשכה הבינלאומית (IB)
בקשת PCT 182689 ישראל (IL)
פרסום לאומי 182689 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה