שיטת בדיקה לשיטה לקבל פרמטרים של מטרה באופן פסיבי - פטנט 177769 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 177769
שם האמצאה:: שיטת בדיקה לשיטה לקבל פרמטרים של מטרה באופן פסיבי
שם באנגלית:: TESTING METHOD FOR A METHOD FOR PASSIVELY OBTAINING TARGET PARAMETERS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2005/119291	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
28/05/2004	דין קדימה	102004026304.3	גרמניה (DE)
27/04/2005	בקשה בינלאומית	PCT/EP/2005/004476	משרד הפטנטים האירופי (EP)
29/08/2006	בקשת PCT	177769	ישראל (IL)
30/11/2010	פרסום לאומי	177769	ישראל (IL)

מגיש

שם:: ATLAS ELEKTRONIK GMBH
כתובת:: SEBALDSBRUCKER HEERSTR. 235 D-28305 BREMEN , DE
מדינה:: גרמניה

מגיש/ממציא

שם:: ULRICH STEIMEL

מסירת הודעות

שם:: דקל פטנט בע" מ
כתובת:: מנוחה ונחלה 18 ,חדר 27, רחובות 76209
מדינה:: ישראל

סוכן

שם:: דקל פטנט בע" מ
כתובת:: מנוחה ונחלה 18 ,חדר 27, רחובות 76209
מדינה:: ישראל

מסמכים

פטנטים דומים