כללי
מספר פטנט:
176164
שם האמצאה:
שיטות ומערכות להערכת מאפיינים אישיים ממדידות ביומטריות
שם באנגלית:
METHODS AND SYSTEMS FOR ESTIMATION OF PERSONAL CHARACTERISTICS FROM BIOMETRIC MEASUREMENTS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2005/059805 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/529299 ארה"ב (US)
דין קדימה 11/009372 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2004/041237 ארה"ב (US)
בקשת PCT 176164 ישראל (IL)
פרסום לאומי 176164 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
LUMIDIGM, INC.