מערכת הדמיה בשני אורכי גל תת–אדום - פטנט 175391 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 175391
שם האמצאה:: מערכת הדמיה בשני אורכי גל תת–אדום
שם באנגלית:: DUAL INFRARED WAVELENGTH IMAGING SYSTEM

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
02/05/2006	בקשה לאומית	175391	ישראל (IL)
30/04/2014	פרסום לאומי	175391	ישראל (IL)

מגיש

שם:: ISRAEL AEROSPACE INDUSTRIES LTD.
כתובת:: BEN GURION INTERNATIONAL AIRPORT, LOD 70100 , IL
מדינה:: ישראל

מגיש/ממציא

שם:: JOSEPH WALLACE
כתובת:: IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

שרטוטים

פטנטים דומים