שיטה ומערכת הדמייה לניתוח תכונות אופטיות של חפץ המואר עי ידי מקור אור - פטנט 174590 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 174590
שם האמצאה:: שיטה ומערכת הדמייה לניתוח תכונות אופטיות של חפץ המואר עי ידי מקור אור
שם באנגלית:: METHOD AND IMAGING SYSTEM FOR ANALYZING OPTICAL PROPERTIES OF AN OBJECT ILLUMINATED BY A LIGHT SOURCE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
29/03/2005	דין קדימה	60/666153	ארה"ב (US)
27/03/2006	בקשה לאומית	174590	ישראל (IL)
31/03/2015	פרסום לאומי	174590	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: ADOM, ADVANCED OPTICAL TECHNOLOGIES LTD.
כתובת:: 1 HAMALACHA ST., LOD 71520 , IL
מדינה:: ישראל

מגיש

שם:: YOSEF WEITZMAN
כתובת:: 42 TVUOT HAARETZ STREET TEL-AVIV 69546 , IL
מדינה:: ישראל

מגיש

שם:: YOEL ARIELI
כתובת:: 14b RABBI MEIR STREET JERUSALEM 93185 , IL
מדינה:: ישראל

מגיש/ממציא

שם:: YOEL ARIELI
כתובת:: 14b RABBI MEIR STREET JERUSALEM 93185 , IL
מדינה:: ישראל

מגיש/ממציא

שם:: YOSEF WEITZMAN
כתובת:: 42 TVUOT HAARETZ STREET TEL-AVIV 69546 , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266
דוא"ל:: mail@wbgpat.co.il

סוכן

שם:: וולף, ברגמן וגולר
כתובת:: ירושלים 91013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6242255
פקס:: 6242266
דוא"ל:: mail@wbgpat.co.il

מסמכים

פרטי הבקשה

פטנטים דומים