קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה לקביעת ייחוס על ידי שימוש בחתימות ויסות של מפתח היסט מרחבי (SSK)
פטנט 173229
כללי
מספר פטנט:
173229
שם האמצאה:
שיטה לקביעת ייחוס על ידי שימוש בחתימות ויסות של מפתח היסט מרחבי (SSK)
שם באנגלית:
METHOD FOR DETERMINING ATTITUDE USING SPATIAL SHIFT KEY (SSK) MODULATION SIGNATURES
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2005/012934
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
04/08/2003
דין קדימה
2003904046
אוסטרליה (AU)
03/08/2004
בקשה בינלאומית
PCT/AU/2004/001024
אוסטרליה (AU)
18/01/2006
בקשת PCT
173229
ישראל (IL)
27/09/2011
פרסום לאומי
173229
ישראל (IL)
מגיש
שם:
LOCATA CORPORATION
כתובת:
9 ISLAND VIEW IRVINE, CALIFORNIA , US
מדינה:
ארה"ב
מגיש/ממציא
שם:
DAVID SMALL
מסירת הודעות
שם:
ש. הורוביץ ושות'
כתובת:
רחוב אחד העם 31, תל אביב 65202
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5670700
פקס:
03-5660974
דוא"ל:
patents@s-horowitz.co.il
סוכן
שם:
ש. הורוביץ ושות'
כתובת:
רחוב אחד העם 31, תל אביב 65202
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5670700
פקס:
03-5660974
דוא"ל:
patents@s-horowitz.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
מודולציה של FNT
מוסד אופטית ושיטה להטית קרני אור ואיפנונן המרחבי
מערכת אפנון אופטי
מערכת משגוח להתקנים המאפגניים איתותוידאו
מערכת איפנון עם דילוב מופע מתמשך, בעלת בקרת בתחום משופרת