כללי
מספר פטנט:
173025
שם האמצאה:
שיטה ו/או מכשיר ספקטרוסקופי בעל רזולוציה גבוהה
שם באנגלית:
A METHOD AND APPARATUS FOR HIGH RESOLUTION SPECTROSCOPY
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
בקשה לאומית 173025 ישראל (IL)
פרסום לאומי 173025 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
OREN AHARON