קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מקורות קרינה ומערכות לסריקה של קרינה להם אחידות משופרת של עוצמת הקרינה
פטנט 171490
כללי
מספר פטנט:
171490
שם האמצאה:
מקורות קרינה ומערכות לסריקה של קרינה להם אחידות משופרת של עוצמת הקרינה
שם באנגלית:
RADIATION SOURCES AND RADIATION SCANNING SYSTEMS WITH IMPROVED UNIFORMITY OF RADIATION INTENSITY
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2004/097337
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
25/04/2003
דין קדימה
10/423770
ארה"ב (US)
23/04/2004
בקשה בינלאומית
PCT/US/2004/012511
ארה"ב (US)
20/10/2005
בקשת PCT
171490
ישראל (IL)
30/12/2010
פרסום לאומי
171490
ישראל (IL)
מגיש
שם:
VARIAN MEDICAL SYSTEMS, INC.
כתובת:
3100 HANSEN WAY PALO ALTO CA. 94304 , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
דר' אייל ברסלר עו" פ
כתובת:
תובל 11, רמת - גן 52522
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5765555
פקס:
03-5765566
סוכן
שם:
דר' אייל ברסלר עו" פ
כתובת:
תובל 11, רמת - גן 52522
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5765555
פקס:
03-5765566
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
מקורות קרינה ותהליך
מערכת לקליטת קרינת השמש
לייזר ניקר ושיטה ליצירת קרינת לייזר
תא סולרי אור חשמלי עבור הקרנה בעלת עוצמה רבה
מערכת ושיטה לטיפול קרינתי עם מסובב