כללי
מספר פטנט:
167637
שם האמצאה:
שיטה ומערכת לקביעת שיעור אי האחידות של מערכות המבוססות על בלומטר
שם באנגלית:
METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING THE RATE OF NON UNIFORMITY OF BOLOMETER BASED SYSTEMS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
בקשה לאומית 167637 ישראל (IL)
פרסום לאומי 167637 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
SEMI-CONDUCTOR DEVICES - AN ELBIT SYSTEMS - RAFAEL PARTNERSHIP
כתובת:
P.O. BOX 2250 HAIFA 31021 , IL
מדינה:
ישראל
  מגיש/ממציא
שם:
UDI MIZRAHI
כתובת:
IL
מדינה:
ישראל
  מגיש/ממציא
שם:
AVRAHAM FRAENKEL
כתובת:
IL
מדינה:
ישראל
  מגיש/ממציא
שם:
ZVI KOPOLOVICH
כתובת:
IL
מדינה:
ישראל
  מגיש/ממציא
שם:
AMNON ADIN
כתובת:
IL
מדינה:
ישראל
  מגיש/ממציא
שם:
LEONID BIKOV
כתובת:
IL
מדינה:
ישראל
  מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
  סוכן
שם:
לוצאטו את לוצאטו
כתובת:
גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:
ישראל
טלפון:
0732262626
פקס:
073-2262627
דוא"ל:
ilpto@luzzatto.co.il
  סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il