מערכת מיפוי יחידות פסולות למיפוי שכבות מרובות של לוח בודד ושיטה הקשורה לכך - פטנט 162650 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 162650
שם האמצאה:: מערכת מיפוי יחידות פסולות למיפוי שכבות מרובות של לוח בודד ושיטה הקשורה לכך
שם באנגלית:: SCRAP-UNITS- MAPPING SYSTEM FOR MAPPING MULTIPLE LAYERS OF A SINGLE BOARD AND METHOD THEREFOR

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
21/06/2004	בקשה לאומית	162650	ישראל (IL)
30/09/2014	פרסום לאומי	162650	ישראל (IL)

מגיש

שם:: CAMTEK LTD.
כתובת:: RAMAT GABRIEL INDUSTRIAL ZONE P.O.BOX 544 MIGDAL HAEMEK 23150 , IL
מדינה:: ישראל

מגיש/ממציא

שם:: NIR DERY
כתובת:: IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: רכס פטנטים
כתובת:: מגדלי אקרשטיין המנופים, הרצליה פיתוח 46120
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-8913489
פקס:: 09-8913489
דוא"ל:: mail@i-p.co.il

סוכן

שם:: יעקב פינק משרד עו" ד ונוטריון
כתובת:: מגדל העיר קומה 16 רחוב בן יהודה 34, ירושלים 94230
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6248701
פקס:: 02-6248710

סוכן

שם:: רכס פטנטים
כתובת:: מגדלי אקרשטיין המנופים, הרצליה פיתוח 46120
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-8913489
פקס:: 09-8913489
דוא"ל:: mail@i-p.co.il

מסמכים

פטנטים דומים