שיטה לניתוח חזית גל, שיטה לניתוח שינוי פאזה, שיטה להצגה בו – זמנית מדידות של פני– השטח ועובי שכבה, התקן לניתוח חזית–גל, שיטה לניתוח תכונה אופטית ומערכת לניתוח חזית–גל פטנט 162543
כללי
מספר פטנט:
162543
שם האמצאה:
שיטה לניתוח חזית גל, שיטה לניתוח שינוי פאזה, שיטה להצגה בו – זמנית מדידות של פני– השטח ועובי שכבה, התקן לניתוח חזית–גל, שיטה לניתוח תכונה אופטית ומערכת לניתוח חזית–גל
שם באנגלית:
A METHOD OF WAVEFRONT ANALYSIS, A METHOD OF PHASE CHANGE ANALYSIS, A METHOD OF PROVIDING SIMULTANEOUS SURFACE AND LAYER THICKNESS MEASUREMENTS, AN APPARATUS FOR WAVEFRONT ANALYSIS, A METHOD OF PROPERTY ANALYSIS AND A WAVEFRONT ANALYSIS SYSTEM
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2003/062743
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה
60/351753
ארה"ב (US)
דין קדימה
60/406593
ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית
PCT/IL/2002/000833
ישראל (IL)
בקשת PCT
162543
ישראל (IL)
פרסום לאומי
162543
ישראל (IL)
מגיש
שם:
ICOS VISION SYSTEMS NV
כתובת:
RESEARCH PARK HAASRODE, ZONE 1, ESPERANTOLAAN 8, 3001 HEVERLEE, , BE