כללי
מספר פטנט:
157080
שם האמצאה:
שיטה לגילוי צורות מתילציה של ציטוסין בעלי רגישות גבוהה
שם באנגלית:
METHOD FOR DETECTING CYTOSINE METHYLATION PATTERNS HAVING HIGH SENSITIVITY
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2002/072880 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 10112515.1 גרמניה (DE)
דין קדימה 10158283.8 גרמניה (DE)
בקשה בינלאומית PCT/EP/2002/002572 משרד הפטנטים האירופי (EP)
בקשת PCT 157080 ישראל (IL)
פרסום לאומי 157080 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
EPIGENOMICS AG