שיטה והתקן למדידת איכות תצורת גל - פטנט 155970 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 155970
שם האמצאה:: שיטה והתקן למדידת איכות תצורת גל
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR A WAVEFORM QUALITY MEASUREMENT

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2002/049221	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
14/12/2000	דין קדימה	09/738586	ארה"ב (US)
13/12/2001	בקשה בינלאומית	PCT/US/2001/047758	ארה"ב (US)
18/05/2003	בקשת PCT	155970	ישראל (IL)
11/02/2009	פרסום לאומי	155970	ישראל (IL)

מגיש

שם:: QUALCOMM INCORPORATED
כתובת:: 5775 MOREHOUSE DRIVE SAN DIEGO CA 92121-1714 , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

מסמכים

פטנטים דומים