שיטה לשליפת איזור מואר ממטריצת חיישני אור של התקן גלאי–אור והתקן גלאי–אור המיישם את השיטה - פטנט 155745 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 155745
שם האמצאה:: שיטה לשליפת איזור מואר ממטריצת חיישני אור של התקן גלאי–אור והתקן גלאי–אור המיישם את השיטה
שם באנגלית:: METHOD FOR EXTRACTING AN ILLUMINATED ZONE FROM A MATRIX OF PHOTOSENSORS OF A LIGHT-DETECTING DEVICE AND LIGHT-DETECTING DEVICE IMPLEMENTING THE METHOD

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
06/05/2002	דין קדימה	02/05623	צרפת (FR)
04/05/2003	בקשה לאומית	155745	ישראל (IL)
24/09/2012	פרסום לאומי	155745	ישראל (IL)

מגיש

שם:: MBDA FRANCE
כתובת:: 37, BOULEVARD DE MONTMORENCY PARIS F- 75016 CEDEX 16 , FR
מדינה:: צרפת

מסירת הודעות

שם:: זליגסון גבריאלי ושות'
כתובת:: רח' יבנה 31, תל אביב 61013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-5661446
פקס:: 03-5608458
דוא"ל:: mail@sgl.co.il

סוכן

שם:: זליגסון גבריאלי ושות'
כתובת:: רח' יבנה 31, תל אביב 61013
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-5661446
פקס:: 03-5608458
דוא"ל:: mail@sgl.co.il

מסמכים

פטנטים דומים