קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מערכת לבדיקה באמצעות מיקרוסקופ
פטנט 152640
כללי
מספר פטנט:
152640
שם האמצאה:
מערכת לבדיקה באמצעות מיקרוסקופ
שם באנגלית:
MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2001/088592
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
15/05/2000
דין קדימה
570972
ארה"ב (US)
10/05/2001
בקשה בינלאומית
PCT/IL/2001/000410
ישראל (IL)
04/11/2002
בקשת PCT
152640
ישראל (IL)
19/02/2004
פרסום לאומי
152640
ישראל (IL)
מגיש
שם:
ORBOTECH LTD.
פטנטים דומים
מיקרוסקופ
מערכת מיקרוסקופ ושיטה
מיקרוסקופ נייד
מיקרוסקופ פאזים ממוחשב
מיקרוסקופ עם מיקוד אוטומטי