שיטה ומתקן לבדיקת פגמים - פטנט 152526 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 152526
שם האמצאה:: שיטה ומתקן לבדיקת פגמים
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECTS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
29/10/2001	דין קדימה	2001-330113	יפן (JP)
28/10/2002	בקשה לאומית	152526	ישראל (IL)
11/02/2007	פרסום לאומי	152526	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HITACHI, LTD.
כתובת:: 6, KANDA SURUGADAI 4-CHOME, CHIYODA-KU, TOKYO 101-8010 , JP
מדינה:: יפן

מסירת הודעות

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

סוכן

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

מסמכים

פטנטים דומים