ניתוח ומדידה מרחבית וספקטרלית של חזית גל - פטנט 152213 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 152213
שם האמצאה:: ניתוח ומדידה מרחבית וספקטרלית של חזית גל
שם באנגלית:: SPATIAL AND SPECTRAL WAVEFRONT ANALYSIS AND MEASUREMENT

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2001/077629	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
12/04/2000	דין קדימה	60/196862	ארה"ב (US)
11/04/2001	בקשה בינלאומית	PCT/IL/2001/000335	ישראל (IL)
09/10/2002	בקשת PCT	152213	ישראל (IL)
30/06/2010	פרסום לאומי	152213	ישראל (IL)

מגיש

שם:: ICOS VISION SYSTEMS NV
כתובת:: RESEARCH PARK HAASRODE, ZONE 1, ESPERANTOLAAN 8, 3001 HEVERLEE, , BE
מדינה:: בלגיה

מגיש

שם:: NANO-OR TECHNOLOGIES INC.
כתובת:: 1013 CENTER ROAD WILMINGTON DE , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

מסמכים

פטנטים דומים