שיטה והתקן עבור בדיקה ספקטרוסקופית במקום - פטנט 152171 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 152171
שם האמצאה:: שיטה והתקן עבור בדיקה ספקטרוסקופית במקום
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR IN-SITU SPECTROSCOPIC ANALYSIS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2001/081899	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
26/04/2000	דין קדימה	558680	ארה"ב (US)
26/04/2001	בקשה בינלאומית	PCT/US/2001/013511	ארה"ב (US)
08/10/2002	בקשת PCT	152171	ישראל (IL)
12/03/2006	פרסום לאומי	152171	ישראל (IL)

מגיש

שם:: GLAXO GROUP LIMITED
כתובת:: 980 GREAT WEST ROAD, BRENTFORD MIDDLESEX TW8 9GS , GB
מדינה:: בריטניה

מסירת הודעות

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים