כללי
מספר פטנט:
151897
שם האמצאה:
מדידת ליקויים קוגניטיביים
שם באנגלית:
MEASURING COGNITIVE IMPAIRMENT
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2001/072217 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 534545 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2001/002189 ארה"ב (US)
בקשת PCT 151897 ישראל (IL)
פרסום לאומי 151897 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
PANMEDIX INCORPORATED